Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometríaóptica de baja coherencia

C. Palavicini, Y. Jaouën, P. Gallion, G. Campuzano

Resumen


La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas de telecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidades existentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una información precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichos componentes.


Palabras clave


Reflectometría de baja coherencia; caracterización de dispositivos fotónicos

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