Determinations of optical constans of znx in1-xse thin films deposited by evaporation

GUSTAVO GORDILLO , C. CALDERÓN , F. ROJAS

Resumen


SE CARACTERIZARON ÓPTICAMENTE PELÍCULAS DELGADAS POLICRISTALINAS DE ZNXIN1XSE CON CONTENIDOS DE SE VARIANDO ENTRE X=0 (INSE) Y X=1 (ZNSE). LAS PELÍCULAS FUERON DEPOSITADAS SOBRE SUBSTRATO DE VIDRIO. LAS MUESTRAS SE CRECIERON POR COEVAPORACIÓN DE LOS COMPUESTOS ZNSE E IN2SE3 USANDO UN CRISOL CONSTITUIDO POR DOS CÁMARAS COAXIALES. LAS CONSTANTES ÓPTICAS (ÍNDICE DE REFRACCIÓN N, COEFICIENTE DE ABSORCIÓN Y BRECHA DE ENERGÍA ÓPTICA EG) Y EL ESPESOR DE LAS PELÍCULAS D, SE DETERMINARON USANDO EL ESPECTRO DE TRANSMISIÓN Y CÁLCULOS SIMPLES BASADOS EN UN MODELO TEÓRICO QUE INCLUYE LOS EFECTOS DE INTERFERENCIA INDUCIDOS POR LAS MÚLTIPLES REFLEXIONES INTERNAS EN EL SISTEMA SUSTRATO/PELÍCULA. LA CONFIABILIDAD DE LOS RESULTADOS FUE PROBADA COMPARANDO EL ESPECTRO DE TRANSMITANCIA EXPERIMENTAL CON EL GENERADO TEÓRICAMENTE, UTILIZANDO VALORES DE N, Y D OBTENIDOS EXPERIMENTALMENTE.

Abstract

POLYCRYSTALLINE ZNXIN1XSE THIN FILMS WITH SE CONTENTS VARYING BETWEEN X=0 (INSE) AND X=1 (ZNSE), DEPOSITED ON GLASS SUBSTRATES, WERE OPTICALLY CHARACTERIZED. THESE SAMPLES WERE GROWN BY COEVAPORATION OF THE ZNSE AND IN2SE3 COMPOUNDS USING A CRUCIBLE CONSTITUTED BY TWO COAXIAL CHAMBERS. THE OPTICAL CONSTANTS (REFRACTIVE INDEX N, ABSORPTION COEFFICIENT AND OPTICAL GAP EG) AND THE FILM THICKNESS D, WERE DETERMINED USING THE TRANSMISSION SPECTRUM AND SIMPLE CALCULATIONS BASED ON A THEORETICAL MODEL INCLUDING INTERFERENCE EFFECT INDUCED BY MULTIPLE INTERNAL REFLECTIONS IN THE SUBSTRATE/FILM SYSTEM. THE RELIABILITY OF THE RESULTS WAS TESTED BY COMPARING THE EXPERIMENTAL TRANSMITTANCE SPECTRA WITH THE THEORETICALLY ONES, USING VALUES OF N, AND D OBTAINED EXPERIMENTALLY.


Palabras clave


PROPIEDADES ÓPTICAS; SELENUROS; SEMICONDUCTORES; CELDAS SOLARES

Texto completo:

pdf